品控難點
前段制程是顯示面板制造過程中重要環節，Array面板制程利用AOI檢測技術監控制造過程的外觀缺陷，其檢測精度和效率對產品良率和成本產生重要的影響。外圍電路、不規則區域的檢測困難，成為各顯示工廠Array段品控的難點。
設備優勢
天準獨有的標定平臺技術支持圖像更好拼接，實現分區域檢測，對AA區采用周期對比的方式，對外圍區域采用 Panel to Panel 對比方式
天準自主開發的Virgo軟件平臺支持矩形、圓形、半圓形等異形Map建立
檢測精度1.0μm / 1.5μm可切換
