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      天準半導體紅外測量系統在全球處于頭部地位。系統將高性能紅外相機與設計優化的紅外光學結合,提供具備出色分辨率和對比度的圖像,實現基板的頂部、底部和內部結構的有效測量。


      主要特點

      設計優化的整套紅外光學系統,紅外波長最高支持1500nm

      支持定制適用于不同產品的自動化搬運方案 

      可見光和紅外光組合,反射光和透射光組合 

      SECS/GEM

      IRIS
      主要特點

      支持定制適用于不同產品的自動化搬運方案

      可見光和紅外光組合,反射光和透射光組合

      SECS/GEM

      長期維護成本低,穩定可靠

      MT3000VIS/IR
      主要特點

      全自動測量

      可見光和紅外光組合,反射光和透射光組合

      SECS/GEM

      長期維護成本低,穩定可靠

      MT2010VIS/IR
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